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GTEM小室-技術(shù)概述:
TEM小室-吉赫茲?rùn)M電磁波-用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)-輻射抗干擾測(cè)試
采用GTEM(吉赫茲?rùn)M電磁波)進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試是近年來(lái)電磁兼容領(lǐng)域發(fā)展的一項(xiàng)新的測(cè)量技術(shù)。由于GTEM的寬頻帶特性(從直流到微波),低造價(jià)(只相當(dāng)電波暗室造價(jià)的百分之幾),既可用于電磁輻射敏感度試驗(yàn)(EMS試驗(yàn)。有時(shí)也稱抗擾度試驗(yàn)),又可用于電磁輻射試驗(yàn)(EMI試驗(yàn))而且所用儀器(相對(duì)在電波暗室中做試驗(yàn)來(lái)說(shuō))有配置簡(jiǎn)單,成本便宜和可用于快速和自動(dòng)測(cè)試的特點(diǎn),所以越來(lái)越受到和國(guó)內(nèi)有關(guān)人士的重視。其中尤以對(duì)待小設(shè)備的測(cè)試,GTEM小室的測(cè)量方案是性能價(jià)格比比較高的測(cè)試方案。
TEM小室-圖片:
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