PVK 2脈沖校準裝置測試系統(tǒng)
優(yōu)點:
> 高精度無感電阻
> 同軸端子輸出接口
> 最高測試電壓可達DC 1000V
符合ISO 7637-2:2004附錄D標準
PA3000 1月4日 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250
4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA,0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設(shè)備,MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括:4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備
4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 對于高 K 電解質(zhì),深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括:
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"
4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì),深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì),深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術(shù)套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括: (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關(guān)模塊
自動化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測試項目模塊
電纜"
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報價
CR125A 時鐘恢復儀器 12.5 Gb/s - 配置與報價
CR175A 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s - 配置與報價
CR286A 時鐘恢復儀器 28.6 Gb/s - 配置與報價
PED3201 1 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價
PED4001 1 通道誤碼檢測器 40 Gb/s - 配置與報價
PED3202 2 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價
PVK 2脈沖校準裝置測試系統(tǒng)定義了很多種脈沖,這些脈沖校驗時必須帶標準的負載。校驗的重復性取決于很多因素,其中包括合適的示波器補償和高質(zhì)量的無感負載。因此,泰思特提供相關(guān)的校驗工具包。這些工具包*ISO 7637-2:2004附錄D校驗脈沖的規(guī)定,并且廣泛用于校準實驗室。