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II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 30S屬我司自主發(fā)的沖擊電流測試發(fā)生器，主要用于MOV、TVS、GDT、SPD等浪涌保護(hù)裝置進(jìn)行模擬雷擊試驗(yàn)，也可用于其它的科學(xué)研究，具有系統(tǒng)集成度高、控制智能化，操作簡便等優(yōu)點(diǎn)。可通過主回路單元的不同組合，將輸出分為多個等級，實(shí)現(xiàn)拓寬輸出范圍的測試能力。本系列設(shè)備采用全自動控制，只須在參數(shù)設(shè)置頁面進(jìn)行簡單的試驗(yàn)需求設(shè)置，即可一鍵自動運(yùn)行測試。
II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 30S
優(yōu)點(diǎn)：
1.采用開放式結(jié)構(gòu)，簡潔美觀；
2.采用立體向心式布局，回路電感量小，放電均勻；
3.設(shè)備需安裝在獨(dú)立的測試房間，安裝門禁系統(tǒng)，保證用戶的安全；
4.操作方便靈活，可以集成較高的自動化控制，自動循環(huán)控制；
5.可搭配crowbar觸發(fā)系統(tǒng)進(jìn)行10/350us波形試驗(yàn)，最高可輸出100kA；
6.針對不同的測試目的，可配合不同的波形發(fā)生網(wǎng)絡(luò)，產(chǎn)生各種輸出波形；
7.配置MCS2000自動控制系統(tǒng)。

S46T-18 最多為 32 端接繼電器，包括 18 和 26.5GHz GPIB 全機(jī)架，2U

"4200A-SCS-PK1 

高分辨率 IV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率 

對于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"

"4200A-SCS-PK2 

高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

對于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"

"4200A-SCS-PK3 

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz 

對于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括：

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設(shè)備"

"4200-BTI-A 

超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用* CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括：

(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項(xiàng)目模塊

電纜"

2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600

2600-PCT-2B 高電流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300

2600-PCT-3B 高壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600

2600-PCT-4B 高電流和高電壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400

S500 - 配置與報價

S530. - 配置與報價

S535 - 配置與報價

S540 - 配置與報價

708B 單槽半導(dǎo)體開關(guān)矩陣，具有高達(dá) 96 個相交點(diǎn)

707B 六槽半導(dǎo)體開關(guān)矩陣，具有高達(dá) 576 個相交點(diǎn)

ACS-BASIC ACS 基礎(chǔ)版主要適合通過手動探頭測試臺和測試夾具進(jìn)行半導(dǎo)體元器件測試。通過“譜線模式”快速地以交互方式執(zhí)行初始器件檢定?；蛘?，使用基于 GUI 的設(shè)置屏幕和廣泛的測量庫創(chuàng)建詳細(xì)的參數(shù)提取測試。

ACS. ACS 支持各種半自動和全自動探頭在整個晶片上對半導(dǎo)體器件進(jìn)行測量。 或者，以交互方式控制探頭測試每個器件。 在運(yùn)行時期間，通過單器件結(jié)果和多器件統(tǒng)計(jì)監(jiān)視測試進(jìn)度。

PSPL5865 12.5 Gb/s 26 dB 7.5 Vp-p 非逆 2.3 W - US $2,570