IQxel-M LoRa 測(cè)試儀
使用 IQxel-M 的 LoRa 測(cè)量解決方案
LoRa 測(cè)試儀
LitePoint 的 IQxel-M™ LoRa 測(cè)試解決方案是開(kāi)箱即可測(cè)試 LoRa 技術(shù)的交鑰匙解決方案。
為確保運(yùn)行,LoRa 設(shè)備必須提供可靠且一致的性能。 IQfact+ LoRa 提供了一種解決方案,可加速批量制造測(cè)試,同時(shí)限度地減少工程工作量。
快速獲得結(jié)果
簡(jiǎn)單的交鑰匙測(cè)試解決方案
多個(gè)設(shè)備的并行測(cè)試(多 DUT)
使用 IQfact+™ 集成 DUT 控制
Turnkey IQfact+ LoRa 發(fā)射器和接收器測(cè)試解決方案
發(fā)射機(jī)測(cè)試 (SF7 – SF12)
輸出功率
頻率誤差
接收機(jī)測(cè)試 (SF7 – SF12)
接收信號(hào)強(qiáng)度指數(shù)
靈敏度
每技術(shù)選項(xiàng)洛拉
何時(shí)何地使用 IQxel-M LoRa 解決方案進(jìn)行測(cè)試?
在實(shí)驗(yàn)室或制造環(huán)境中
對(duì)于最終產(chǎn)品測(cè)試生命周期階段
對(duì)于支持 LoRa 的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備