GTEM500小室構成的輻射敏感度(抗擾度)測試系統(tǒng)為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據(jù)。測試系統(tǒng)構成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監(jiān)視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。
GTEM500小室
PA3000 1月4日 0.04% 讀數(shù) + 0.04% 范圍 600 Vrms CAT II (2000Vpk) 30 Arms 直流到 1 MHz US $7,250
4200A-SCS-PK1 高分辨率 IV 套件 210V/100mA,0.1 fA 分辨率 對于兩端和三端設備,MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括:4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備
4200A-SCS-PK2 高分辨率 IV 和 CV 套件 "210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 對于高 K 電解質,深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括:
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
4200A-SCS-PK3 高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件 "210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 對于功率設備、高 K 電解質,深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:對于功率設備、高 K 電解質,深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:
4200A-SCS 參數(shù)分析儀
(2) 4200-SMU 模塊
(2) 4210-SMU
(1) 4200-PA 前置放大器
(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊
(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"
4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括: (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊
(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊
自動化檢定套件 (ACS) 軟件
超快 BTI 測試項目模塊
電纜"
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX240 1 24 Gb/s 128/2 - 配置與報價
BSX320 1 32 Gb/s 128/2 - 配置與報價
CR125A 時鐘恢復儀器 12.5 Gb/s - 配置與報價
CR175A 時鐘恢復儀器 17.5 Gb/s - 配置與報價
CR286A 時鐘恢復儀器 28.6 Gb/s - 配置與報價
PED3201 1 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價
PED4001 1 通道誤碼檢測器 40 Gb/s - 配置與報價
PED3202 2 通道誤碼檢測器 32 Gb/s - 配置與報價
PPG1251 1 通道可編程碼型發(fā)生器 12.5 Gb/s - 配置與報價
PPG1601 1 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報價
PPG1602 2 通道可編程碼型發(fā)生器 16 Gb/s - 配置與報價
PPG3001 1 通道可編程碼型發(fā)生器 30 Gb/s - 配置與報價
PPG3201 1 通道可編程碼型發(fā)生器 32 Gb/s - 配置與報價